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一臺電鏡,發一篇Science!
納米技術 2021-04-18
界面聲子極化激子SPhPs(Surface phonon polaritons)是納米材料界面上相互耦合的光子-聲子極化,這種結構對納米材料的光學性質、熱力學性質具有非常大的影響,但是難以對電磁態密度的矢量圖進行三維成像。



原子振動(聲子譜)對材料的許多物理性質非常重要,尤其是與熱、熱傳輸相關的現象,同時原子振動為廣泛的材料種類(固體、分子等)提供了特征性表征信號,通過限域效應能偶對納米材料中的聲子進行修飾。

界面聲子極化激子(SPhPs)

界面聲子極化激子是離子型材料界面上產生的電磁聲子、光學聲子的混合波,對于宏觀固體的熱力學性質基本上沒有影響,由于宏觀物體取決于整體聲頻聲子,難以同電磁遠場進行耦合,因此界面聲子極化激子未受到廣泛關注,僅僅作為一個科學問題。

近期,界面聲子極化激子由于在中紅外(3~8 μm,155~413 meV)~遠紅外(15~1000 μm,1.2~83 meV)區間的光子學與納米光子學的應用前景受到了更多關注。

當材料的界面/體積比增加,界面聲子極化激子對整體的貢獻提高,同時納米結構顯著影響近場增強效應、其與遠場之間的耦合作用。因此能夠反映納米材料的熱動力學性質。此外,SPhPs能夠在亞波長尺度集中電磁能量,雖然與表面等離激元作用方式類似,但是區間覆蓋度更高(達到遠紅外區間),因此在超分辨透鏡、增強振動光譜等應用中產生應用前景。目前此類表征與納米材料、超材料界面附近的電磁場有關。

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第一作者:Xiaoyan Li
通訊作者:Gerald Kothleitner,Mathieu Kociak
通訊作者單位:巴黎薩克雷大學,格拉茨技術大學

顯微鏡通過電子束照射樣品進行成像,能夠對各種物理學性質以非常高的分辨率、甚至達到單個原子的表征,法國原子能和替代能源委員會的科研設備創優計劃(Equipex)支持推出的Tempos 電子顯微鏡平臺中新型顯微鏡Chromatem,該顯微鏡的創新之處在于,能夠將光束分解成多個組分,從而能夠對物質的光學、力學、磁學等性質進行高分辨成像分析,性能處于世界領先水平之列

主要內容
有鑒于此,巴黎薩克雷大學Gerald Kothleitner、格拉茨技術大學Mathieu Kociak等報道了通過Chromatem顯微鏡平臺,通過多種電子顯微學技術結合,繪制納米結構MgO界面上的聲子極化激子SPhPs譜圖,實現了較高的空間、光譜、角度分辨率。

具體而言,通過具有較高單色性的電子束,在STEM模式中對MgO立方體納米材料的界面通過改變電子束位置、能量損失、傾斜角度等參數研究SPhP信號的變化,對材料的聲子電磁場進行斷層重建,這種三維界面激子圖像為深入理解、優化納米結構材料和開發各種功能提供經驗和指導

測試
通過EELS實現分辨率達到納米尺度的聲子譜測試,由于EELS譜只能實現2D成像,因此通過斷層、樣品傾斜方法和EELS結合,同時借助計算進行重建得到了3D結構相關結果,在EMLDOS(電磁局域態密度)與等離子體激元(plasmon exiciation)之間建立關系,對沿著各個方向、各個空間和不同能量的投影進行揭示。

樣品制備。在20 nm Si3N4基底上沉積邊長191 nm的MgO納米立方體,Si3N4基底材料背面修飾納米厚度碳層消除樣品中多余的電子。

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圖1. 具有斷層、傾角、EELS功能的電鏡

結果

樣品測試。在非傾斜、傾斜條件中,分別使用三種模式I、II、III(分別對應于68 meV,69 meV,78 meV電子束)激發樣品,考察界面聲子極化激子譜變化情況。

在模式I 中,當傾斜角為0°,激子分布在四個拐角處,當傾斜角為400 mrad(=22.92°,其中1 mrad=0.0573°),通過基底相互作用,激子在基底附近的強度比在附近的真空強度更高。

在模式II條件中的0°傾斜角中,由于擬合程序的原因,未在圖像中發現明顯的激子分布,當在傾斜模式中才能夠發現激子分布,說明模式II是可行過程。

在模式III條件中,激子的分布較為復雜,作者進一步通過其他手段進行研究。

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圖2. 不同模式中激子分布圖
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圖3.模擬重構三種模式激子分布圖

通過電磁局域態密度EMLDOS(electromagnetic local density of states)方法對立方體MgO納米粒子的激子分布情況進行模擬,實現了對納米粒子的激子響應沿著空間分布變化情況建立模型,能夠對I、II、III三種模式進行解釋

模式I條件中,激子主要分布在拐角處,由于基底作用導致分裂生成兩種區間,一個區間分布在靠近基底處,另一個處于較遠位置的靠近真空。靠近基底的激子由于基底的影響導致傳播受到阻礙。

模式II條件中,激子主要分布在邊緣處,由于模式II的能量和模式I能量區別較小,導致難以在實驗中區分。

模式III條件中,激子主要分布在表面處。

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圖4. (I)拐角模式、(II)邊緣模式、(III)面模式中的聲子極化演變圖(實驗結果和計算結果對比)

參考文獻:
Xiaoyan Li, Georg Haberfehlner, Ulrich Hohenester, Odile Stéphan, Gerald Kothleitner*, Mathieu Kociak*, Three-dimensional vectorial imaging of surface phonon polaritons, Science 2021, 371 (6536), 1364-1367
DOI: 10.1126/science.abg0330
https://science.sciencemag.org/content/371/6536/1364




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