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世界紀(jì)錄!藍(lán)色LED,登上Nature!
米測 技術(shù)中心 納米人 2023-12-23

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特別說明:本文由米測技術(shù)中心原創(chuàng)撰寫,旨在分享相關(guān)科研知識。因?qū)W識有限,難免有所疏漏和錯誤,請讀者批判性閱讀,也懇請大方之家批評指正。

原創(chuàng)丨彤心未泯(學(xué)研匯 技術(shù)中心)

編輯丨風(fēng)云


研究背景

磷光有機(jī)發(fā)光器件(PHOLED)由于具有高效率、高亮度和顏色可調(diào)性而廣泛應(yīng)用于顯示和照明應(yīng)用。然而,由于降解基本上是由能量驅(qū)動的,因此與綠色和紅色 PHOLED 相比,顯示器中使用的藍(lán)色 PHOLED 的壽命極短,限制了其實(shí)際應(yīng)用。


關(guān)鍵問題

藍(lán)色PHOLED的應(yīng)用主要存在以下問題:

1、克服藍(lán)色PHOLED的短壽命是有機(jī)電子領(lǐng)域最具挑戰(zhàn)性的問題之一

導(dǎo)致藍(lán)色 PHOLED 壽命縮短的主要能量驅(qū)動機(jī)制是三重態(tài)-極化子 (TPA)或三重態(tài)-三重態(tài)湮沒 (TTA),這些反應(yīng)將激發(fā)態(tài)能量提高了約一杯,高達(dá)~6.0 eV,這足以破壞分子內(nèi)鍵,將有機(jī)分子轉(zhuǎn)化為非輻射猝滅中心。

2、已報道的OLED壽命延長方法存在兼容性問題

為了在保持高效率的同時最大限度地減少高能湮滅事件的可能性,應(yīng)通過快速輻射能量轉(zhuǎn)移來降低三重態(tài)密度,已報道的提高衰減率的方法使綠色 PHOLED 的壽命延長了一倍,但這種技術(shù)帶來了與全彩、穩(wěn)定和可擴(kuò)展的顯示器制造不兼容的復(fù)雜性。    


新思路

有鑒于此,密歇根大學(xué)Stephen R. Forrest等人展示了藍(lán)光PHOLED 中偏振子增強(qiáng)的Purcell效應(yīng),發(fā)現(xiàn)等離子體激子極化激元 (PEP) 顯著增加了Purcell效應(yīng)的強(qiáng)度,并在藍(lán)光PHOLED 的50 nm厚發(fā)射層上實(shí)現(xiàn)了2.4±0.2的平均Purcell因子。與傳統(tǒng) PHOLED 中的使用相比,LT90(青色發(fā)射 Ir 絡(luò)合物器件的 PHOLED 亮度衰減到其初始值的90%所需的時間)提高了 5.3 倍。將色度坐標(biāo)移動到(0.14, 0.14)和 (0.15, 0.20) 進(jìn)入深藍(lán)色,Purcell 增強(qiáng)型器件比類似的深藍(lán)色 PHOLED 實(shí)現(xiàn)了10-14 倍的改進(jìn),其中一種結(jié)構(gòu)達(dá)到了迄今為止報道的最長 Ir 絡(luò)合物器件壽命 LT90 = 140 ± 20 h。極化激元增強(qiáng)的Purcell效應(yīng)和微腔工程為延長深藍(lán)色 PHOLED 壽命提供了新的可能性。


技術(shù)方案:    

1、闡明了PEP和SPP分散工程

 作者通過測量和計算表明金屬陰極/ ETL界面在ETL單線態(tài)激子與陰極SPP模式共振的波長處形成強(qiáng)耦合的PEP態(tài)。

2、探究了Purcell效應(yīng)和能量轉(zhuǎn)移率

作者展示了三種PHOLED器件結(jié)構(gòu),表明Ag/DBR腔體器件F具有較大的PF、與H相比增強(qiáng)的EQE以及較窄的發(fā)射光譜。

3、表征了PHOLED性能

作者表征了器件C1-3F1-3的EQE、電致發(fā)光(EL)光譜和壽命,表明該器件設(shè)計沒有相關(guān)的功率損失,且實(shí)現(xiàn)了將使用壽命提高了一個數(shù)量級。


技術(shù)優(yōu)勢:

1、報道了迄今為止壽命最長的深藍(lán)色PHOLED器件

作者引入了極化激元增強(qiáng)的Purcell效應(yīng)來延長藍(lán)色 PHOLED 的使用壽命,獲得了迄今為止報道的最長 Ir 絡(luò)合物器件壽命 LT90 = 140 ± 20 h。

2、獲得了具有長壽命、飽和發(fā)射和高EQE的藍(lán)光PHOLED

作者通過設(shè)計PEP增強(qiáng)的Purcell效應(yīng),展示了基于深藍(lán)色I(xiàn)r (dmp)3的PHOLED, 在50 nm厚的EML中,平均Purcell因子為PF=2.4 ± 0.2,最大限度地獲得總的深藍(lán)光光子輸出,具有長的器件壽命、飽和發(fā)射和高EQE。


技術(shù)細(xì)節(jié)

PEP和SPP色散工程

 金屬陰極/ ETL界面在ETL單線態(tài)激子與陰極SPP模式共振的波長處形成強(qiáng)耦合的PEP態(tài)。作者展示了測量和計算的角度分辨光譜之間的匹配。Al/BPyTP2 組合色散的強(qiáng)耦合 PEP 分裂為上極化子 (UP)、中極化子 (MP) 和下極化子 (LP) 分支。角光致發(fā)光(PL)顯示 Ag/BPyTP2 PEP LP 分支的 PL 強(qiáng)度比其他三個陰極/ETL 高兩個數(shù)量級,表明 SPP 和 ETL 激子之間的混合增強(qiáng)。強(qiáng)耦合發(fā)生在 ETL 和陰極之間,并且由于三重態(tài)的振蕩強(qiáng)度較低,藍(lán)色磷光體發(fā)射的三重態(tài)在弱耦合狀態(tài)下轉(zhuǎn)移到 PEP。    

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圖  等離子體激子極化(PEP)增強(qiáng)的Purcell效應(yīng)


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圖  極化激元色散工程    


 Purcell效應(yīng)和能量轉(zhuǎn)移率

作者展示了標(biāo)記為CHF的幾種 PHOLED 結(jié)構(gòu)。三個原型 Ir(dmp)3 器件中465-475nm處的輻射和非輻射通道的計算分布表明,與C中向Al SPP 的微弱能量轉(zhuǎn)移相比,器件HF中通過Ag/BPyTP2或Ag/SF3Trz附近增強(qiáng)的極化子能量轉(zhuǎn)移增加了 ODoS 和 PF。通過提高輻射率來降低三線態(tài)密度,從而減少 TPA/TTA 缺陷的產(chǎn)生,輻射率與 PF 成正比。因此,器件HF中的缺陷產(chǎn)生速率減慢。Ag/DBR腔體器件F具有較大的PF、與H相比增強(qiáng)的EQE以及較窄的發(fā)射光譜。與半腔相比,全Ag/DBR腔樣品顯示出可忽略不計的變化,表明低Q Ag/DBR腔模對PF影響不大。

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圖  藍(lán)色磷光有機(jī)發(fā)光二極管(PHOLED)的光學(xué)工程


PHOLED性能

作者表征了器件C1-3F1-3的EQE和電致發(fā)光(EL)光譜,鑒于表面極化子模式在面外方向呈指數(shù)衰減,具有較厚ETL的PEP增強(qiáng)型F3具有比SPP增強(qiáng)型F1略高的PF,并且出耦合效率提高了45%。除了將青色發(fā)射轉(zhuǎn)換為深藍(lán)色外,低Q Ag/DBR 腔模式對發(fā)射光譜的角度依賴性影響很小。從C到F,電流-電壓特性顯示使用相同ETL的器件沒有變化,表明該器件設(shè)計沒有相關(guān)的功率損失。壽命表征表明,從LT90到LT70,工作壽命與PF之間的冪律從m=2.4 ±0.3降至m=1.7±0.3,表明TPA和TTA對老化都有貢獻(xiàn)。顯然,通過提高輻射衰減率kr來延長器件的使用壽命在老化過程的早期是最有效的。在低Q腔中引入PEP可以顯著增加整個器件壽命期間的深藍(lán)色光子總輸出。基于之前的分級摻雜器件,本文的方法進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了LT90的三倍增加和 ΔCIEy = -0.09±0.03 的偏移,保守估計F1比類似的深藍(lán)色I(xiàn)r基 PHOLED 提高了 14 倍。


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圖  Ir(dmp)3器件性能    


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圖  Ir(dmp)3器件性能總結(jié)


展望

總之,作者證明了PHOLED中的Purcell效應(yīng)通過等離子體激子極化激元 (PEP) 被極化激元顯著增強(qiáng),從而在保持高EQE的同時顯著延長了深藍(lán)光器件的工作壽命。極化子色散和微腔工程為 OLED 的設(shè)計提供了新的自由度。作者展示了器件工作壽命和PF之間的1.7-2.4 冪律依賴性,顯示了該技術(shù)顯著延長 PHOLED 壽命的潛力,特別是在深藍(lán)色的顯示和照明應(yīng)用中。


參考文獻(xiàn):

Zhao, H., Arneson, C.E., Fan, D. et al. Stable blue phosphorescent organic LEDs that use polariton-enhanced Purcell effects. Nature (2023). 

https://doi.org/10.1038/s41586-023-06976-8

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