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不發光怎么發Science:量子點大牛重新定義近乎完美的PLQY!
晴天 納米人 2019-03-17

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第一作者:David A. Hanifi, Noah D. Bronstein, Brent A. Koscher

通訊作者:Alberto Salleo,  A. Paul Alivisatos                                

通訊單位:斯坦福大學、加州大學伯克利分校

 

研究亮點:

1. 發展了一種高精度光譜測量技術,使量子點發光效率檢測的不確定性降低100倍。

2. 實現了高達99.6±0.2%的超高量子點外部發光效率。

 

量子點PLQY前景無限

光致發光(PL)涉及到光的吸收和再發射,是許多染料和半導體材料的基本特征,廣泛應用于固態照明、高效彩色顯示器和生物成像等商業領域,并在發光太陽能聚光器(LSCs)等領域極具應用前景。在這些商業應用中,一個重要的性能指標就是光致發光量子產率(PLQY)。

 

PLQY通常由激發材料中的輻射弛豫和非輻射損耗之間的競爭決定,而非輻射損耗往往由缺陷造成。稀土摻雜的高帶隙單晶和外延沉積薄膜的最高PLQY分別為99.5%和99.7%。然而,在許多依賴于PL的商業應用中,納米晶相對于其分子或體/薄膜對應物具有更明顯的優勢,包括:1)更高的穩定性;2)更低的成本;3)更適合大面積加工;4)更具吸收和發射可調性;5)能夠選擇性地放置在各種復合材料、流體、聚合物和生物環境中。


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量子點照片丨圖文無關

 

本研究擬解決的關鍵問題

1. 效率問題:目前,實驗室中典型的核殼結構量子點CdSe@CdS的PLQY通常超過95%,但這無法滿足很多領域的應用,需要進一步把光子能量的熱損失降低到最小值。隨著發光體的非輻射損失消失,LSCs的光濃度呈對數增加。光學制冷、熱光電引擎和光學腔中的應用都需要材料PLQY≥99%,且非輻射損失可忽略不計。

 

2. 測量問題:當PLQY≥99%時,現有發光效率的測量技術就變得不準確,難以實現準確的測量。

 

成果簡介

有鑒于此,斯坦福大學Alberto Salleo和加州大學伯克利分校A. Paul Alivisatos合作,開發了一種高精度光譜測量技術,使量子點發光效率檢測的不確定性降低100倍,指導實現了99.6%的超高效量子點PLQY。

 

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圖1. CdSe@CdS核殼結構量子點表征

 

要點1. 單分散量子點的制備

基于MIT著名科學家Moungi G. Bawendi團隊于2013年發表于Nature Materials的工作,本文研究人員制備了一種單分散的CdSe@CdS核殼結構量子點納米晶,其中,CdS殼層厚度可以在4-11層均勻可控。

 

和Moungi G. Bawendi的制備方法不同的是,之前的配方采用油胺作為保護劑以確保單分散的尺寸分布,而本文完全沒有使用油胺,因為油胺會促進Z型Cd(oleate) 2表面配體的解吸。因此,本文合成策略有助于保持配體在表面的高覆蓋率,減少可能的表面陷阱,同時保持高輻射效率。

 

要點2. 無法區分的超高效量子點PLQY

研究人員使用積分球來測量這些量子點的PLQY。研究發現,當殼層厚度為2 nm時,CdSe@CdS的PLQY超過90±2%;當殼層厚度達到4nm時,PLQY趨于超過97±3%。然而,當PLQY接近99%時,無論激發波長如何,在PLQY的真實值在誤差內均無法區分(8層shell和10層shell時測得PLQY分別為100±3%和97±3%)。

 

要點3. 全新的高精度PLQY測量技術

最常見的PLQY測量技術主要有相對染料方法和積分球技術,都是輻射測量技術的核心。這兩種方法都依賴于光譜靈敏度校準和光譜輻射傳遞標準,而光譜輻射傳遞標準本身就存在不確定性,從而在測量中引入至少2%至5%的不確定性。為了突破光學靈敏度的限制,作者發明了一種光熱閾值量子產率(PTQY)測量技術。這種技術不依賴于光子通量,而是利用光量子化來測量PLQY;不是測量電子發射的激發能量閾值,而是測量產生凈正熱量的激發能量閾值。


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圖2. PTQY測試示意圖

 

在典型的PL過程中,吸收的光子將電子從基態激發到更高能量的激發態,留下一個空穴;通過將熱聲子發射到主晶體中,電荷載流子快速弛豫回到帶邊緣。然后,熱化的電子和空穴復合,材料回到基態,發出光子。如果材料中存在缺陷,就會發射更多的熱量,產生非輻射損失。因此,每次吸收過程產生的平均熱量來源于本征的帶邊熱化過程(“藍色損失”)和非輻射帶間弛豫(“非輻射損失”)的組合。因為藍色損失代表由載流子熱化產生的熱量,所以依賴于熱量激發能量測量技術,可以確定源自非輻射帶產生的熱量占帶弛豫產生熱量的比例。因此,確定凈發熱消失時的光子能量(閾值能量,E0),使得精確測定PLQY成為可能。


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圖3. CdSe/CdS量子點光學表征和PTQY測量的不確定性

 

常規的相對染料法和積分球測量法中,不確定度為4%。研究人員采用橫向光熱偏轉光譜儀來進行PTQY技術,獲得的最佳不確定性為0.04%。也就是說,PLQY測量準確度提高了100倍。基于此技術,研究人員發現,當CdSe@CdS量子點納米晶殼層厚度為8.5層時,具有99.6±0.2%的最高PLQY,幾部沒有非輻射衰變。

 

小結

總之,這項研究為進一步理解膠體量子點的精準合成、發光效率量化和機制探索提供了全新的思路。同時,這項工作也證明,合成具有非輻射衰變通道的納米晶不再比獲得單晶半導體材料更難,為近乎無損耗材料的未來發展提供了重要平臺。

 

參考文獻:

DavidA. Hanifi, Noah D. Bronstein, Brent A. Koscher, Alberto Salleo,A.Paul Alivisatos et al. Redefining near-unity luminescence in quantum dots withphotothermal threshold quantum yield. Science 2019, 363, 1199-1202.

http://science.sciencemag.org/content/363/6432/1199

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