隨著軟電子技術的發展，可拉伸聚合物半導體（PSC）取得了巨大進步。但同時實現高載流子遷移率和拉伸性仍然是一個挑戰。
在此，斯坦福大學鮑哲南院士，Mingqian He報道了具有高拉伸性的可拉伸 PSC 薄膜（<100 nm 厚）往往表現出多模態能量耗散機制，并且具有較大的相對拉伸性（rS），該相對拉伸性由熵能量耗散與應變下的焓能耗散。
文章要點
1）在應變釋放后，它們有效地恢復了原始的分子排序以及電性能。
2）模型聚合物 (P4) 的最高 rS 值在 100% 雙軸應變下表現出平均載流子遷移率為 0.2 cm2 V?1 s?1，而具有低 rS 值的 PSC 在應變下表現出不可逆的形態變化和電性能快速退化。
這些結果表明 rS 可以用作比較可拉伸 PSC 薄膜的可靠性和可逆性的參數。
參考文獻
Wu, HC., Nikzad, S., Zhu, C. et al. Highly stretchable polymer semiconductor thin films with multi-modal energy dissipation and high relative stretchability. Nat Commun 14, 8382 (2023).
DOI：10.1038/s41467-023-44099-w
https://doi.org/10.1038/s41467-023-44099-w
