導(dǎo)電彈性體因其獨特的機(jī)械和電學(xué)性能而在許多領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景，了解這類材料在變形下的導(dǎo)電機(jī)理至關(guān)重要。然而，揭示導(dǎo)電彈性體的微觀導(dǎo)電機(jī)理是一個挑戰(zhàn)。
東京工業(yè)大學(xué)Xiaobin Liang和Ken Nakajima等開發(fā)了一種結(jié)合原位變形納米機(jī)械原子力顯微鏡（AFM）和導(dǎo)電AFM的方法，成功地同時表征了納米填料復(fù)合導(dǎo)電彈性體的微觀變形和微觀電導(dǎo)率。
本文要點：
（1）
通過這種方法，作者在納米尺度上可視化了炭黑和碳納米管復(fù)合導(dǎo)電彈性體的導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，跟蹤了它們在不同壓縮應(yīng)變下的微觀響應(yīng)，并揭示了微觀和宏觀電學(xué)性質(zhì)之間的相關(guān)性。
（2）
該技術(shù)對于理解導(dǎo)電彈性體的導(dǎo)電機(jī)理和改進(jìn)導(dǎo)電彈性體的設(shè)計具有重要意義。
參考文獻(xiàn):
Simultaneous Visualization of Microscopic Conductivity and Deformation in Conductive Elastomers. ACS Nano 2024, XXXX, XXX, XXX-XXX
DOI: 10.1021/acsnano.3c10584
https://doi.org/10.1021/acsnano.3c10584
