材料及其界面是催化、儲能和轉化等眾多領域發展的核心。在這種情況下，尖端增強拉曼光譜（TERS）將掃描探針顯微鏡與等離子體增強拉曼光譜相結合，是一種強大的技術，可以同時以納米空間分辨率獲得目標樣品的形態信息和化學指紋。它是材料和界面納米級化學表征的理想工具，將它們的結構與化學性能聯系起來。近日，廈門大學任斌、王翔對尖端增強拉曼光譜對材料和界面的納米級化學表征進行了綜述研究。
本文要點：
1) 作者首先簡要介紹了材料和界面的納米級表征，然后詳細討論了TERS的最新理論理解和技術改進，包括增強的起源、TERS儀器、TERS提示和TERS中算法的應用。隨后，作者列出了成功進行TERS測量需要解決的關鍵實驗問題。
2) 接下來，作者將重點介紹TERS在各種材料研究中的最新進展，特別是新型低維材料，以及TERS在研究不同界面（包括固氣界面和固液界面）方面的進展。最后，作者對TERS在材料和界面研究方面的未來發展進行了展望。
Yi-Fan Bao et.al Nanoscale chemical characterization of materials and interfaces by tip-enhanced Raman spectroscopy Chem. Soc. Rev. 2024
DOI: 10.1039/D4CS00588K
https://doi.org/10.1039/D4CS00588K
