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中科院過程所Angew:開發富Mn少缺陷的磷酸鈉鹽電極
納米技術 納米 2025-03-17

Na3MnTi(PO4)3中嚴重的電壓滯后現象引起了廣泛的研究關注,這是由結構中存在于鈉空位()中的Mn2+的本征反位缺陷(IASDs, intrinsic-anti-site-defects)所決定的。然而,對于設計更高性能的Na3MnTi(PO4)3體系,仍然缺乏減少本征反位缺陷的通用指導原則。

有鑒于此,中國科學院過程工程研究所趙君梅等報道Na3MnTi(PO4)3體系中本征反位缺陷的產生主要與結構中的鈉空位以及較弱的Mn?O鍵有關。鈉空位越多,Mn2+占據鈉位點的可能性就越大。同時,Mn?O鍵越弱,Mn2+離域或遷移到其他位點的可能性就越大,最終導致本征反位缺陷的產生。

本文要點:

(1)

為了減少本征反位缺陷,提出引入在Na3MnTi(PO4)3體系中具有較低化合價(相對于Ti4+)、較低電負性(相對于Ti4+)且具有良好固溶度的摻雜劑。基于這一指導原則,選擇了幾種摻雜陽離子(包括Cr3+、Ti3+、Fe3+、V3+)來構建富鈉環境并增強Mn?O鍵的強度。

 (2)

在各種摻雜劑中,V3+取代Ti4+會導致最強的Mn?O相互作用,因此對本征反位缺陷的抑制效果最為顯著。

基于這些發現,進一步開發一系列摻釩的富錳磷酸鹽正極材料Na3.3+yMn1.15VyTi0.85-y(PO4)3(0.1≤y≤0.25),這些材料有望成為鈉離子電池的候選材料。

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參考文獻

Chunliu Xu, Weibo Hua, Guilin Feng, Zhao Chen, Ruijuan Xiao, Qinghua Zhang, Weiqing Yang, Chao Yang, Junmei Zhao, Yong-Sheng Hu, Guiding Design of Mn-Rich Phosphate Cathodes with Less Intrinsic Anti-Site Defects, Angew. Chem. Int. Ed. 2025

DOI: 10.1002/anie.202502758

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/anie.202502758

 


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