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有機光電二極管（OPD）性能指標的可靠性是其在實時應用中有效性的一個基本因素。在這些指標中，暗電流密度因其對探測器靈敏度的直接影響而脫穎而出。在這項研究中，印度科學教育與研究學院Manoj A. G. Namboothiry在制造的近紅外OPD中觀察到暗電流的光敏變化，這破壞了器件的可靠性。

本文要點：

1) 系統研究表明，這種行為源于氧化鋅（ZnO）的光催化性質，氧化鋅是OPD中使用的電子傳輸層。ZnO的光催化性質對活性材料的穩定性產生不利影響，特別是本研究中使用的非富勒烯受體。

2) 通過界面工程方法，包括修改ZnO和有源層之間的界面，作者成功緩解了暗電流中的異常，提高了OPD的一致性和可靠性。除了減少暗電流外，這種界面工程策略還提高了OPD的整體性能和操作穩定性，特別是在紫外線照射下。

參考文獻：

Alvin Joseph et.al Mitigation of Illumination Sensitive Dark Current in Broadband Organic Photodiode Enabled by Robust Interface Engineering Adv. Functional Mater. 2025

DOI: 10.1002/aenm.202500748

https://doi.org/10.1002/aenm.202500748