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C₆₀是高效p-i-n鈣鈦礦單結和多結太陽能電池中流行的電子傳輸層（ETL）。在此，柏林工業大學Steve Albrecht證明了C₆₀ ETL暴露于環境O₂會導致非輻射復合顯著增加，影響了常用表征技術的結果，如穩態和瞬態光致發光（PL）、瞬態表面光電壓以及電流密度電壓測量。

本文要點：

1) 基于PL和He-I紫外光電發射光譜測量，并在密度泛函理論計算和漂移擴散模擬的支持下，作者發現O₂迅速嵌入C₆₀ ETL，導致深陷阱態的形成和鈣鈦礦/C₆₀界面電荷載流子平衡的改變。

2) 研究結果表明，這種效應是可逆的，但如果忽視，可能會誤導實驗解釋，強調了器件制造和表征過程中氧氣管理的重要性。此外，作者已經證明這種相互作用使得在空氣中進行簡單的PL測量成為一種新方法，用于評估C₆₀頂部SnO_x緩沖層中阻擋層的質量。

參考文獻：

Lea Zimmermann et.al Unveiling the Impact of C₆₀–O₂ Interaction on the Performance and Characterization of Perovskite Solar Cells Adv. Energy Mater. 2025

DOI: 10.1002/aenm.202501225

https://doi.org/10.1002/aenm.202501225